GDDR5探针测试座

测试座（夹具）特点：

①适用于常规的BGA178-0.8封装的GDDR5颗粒芯片；

②双头高频测试探针，可过2.8GHz高频型号；

③带PCB转接板，采购回去在PCB板子上面植球即可像SMT贴片一样把测试座直接贴在PCB上面适用；

④测试座设计成翻盖结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定。

⑤测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。

⑥测试座使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短，从而使测试 更稳定，频率更高。

⑦测试（老化）PCB与Socket采用定位销定位及防呆，采用螺丝连接、固定，拆卸、

维护简单方便。